![\"SEM-196-big\"](\"https:\/\/www.omcd.it\/wp-content\/uploads\/SEM-196-big.jpg\")
<\/p>\n
Il FEG (Field Emission Gun)-SEM \u00e8 dotato di una sorgente di elettroni (gun) molto particolare: la sorgente Schottky<\/strong>, costituita da un singolo cristallo di tungsteno estremamente fine sulla cui sommit\u00e0 \u00e8 montato un serbatoio di ossido di zirconio. L\u2019ossido \u00e8 mantenuto fuso e modellato da campi magnetici <\/strong>(fields) in modo da ottenere una punta sottilissima della sorgente\u00a0 e quindi un fascio di elettroni che permette la straordinaria risoluzione necessaria per distinguere particolari centomila volte pi\u00f9 piccoli di un centimetro.<\/p>\n Il nuovo FEG-SEM di HI.Lab \u00e8 stato dotato di due strumenti per effettuare un\u2019analisi della composizione chimica dei particolari visualizzati. Si tratta di due spettrometri in grado di analizzare la radiazione X emessa dalle superfici \u201cbombardate\u201d dagli elettroni e identificare gli elementi chimici presenti:<\/p>\n Sfruttando l\u2019interazione tra un fascio di elettroni e gli atomi che compongono una superficie, un FEG-SEM dotato degli spettrometri EDS e WDS permette quindi di produrre immagini a ingrandimenti superiori di almeno un ordine di grandezza (ad es., da 10000x a 100000x) rispetto ai SEM normali. Permette inoltre di effettuare analisi anche quantitative su tutti gli elementi, distinguendo fra loro anche quelli che il solo spettrometro EDS, di cui sono dotati tutti i SEM, non distingue in maniera adeguata.<\/p>\n Un grosso vantaggio per i clienti del Gruppo OMCD, che possono beneficiare di analisi ancora pi\u00f9 precise ed affidabili.<\/p>\n![\"Schottky\"](\"https:\/\/www.omcd.it\/wp-content\/uploads\/Schottky.png\")
<\/p>\n\n
Polvere di tungsteno osservata ad ingrandimenti differenti<\/h4>\n
<\/a>\n\t <\/div><\/figure>